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金屬鍍層的厚度是衡量鍍層質量的重要指標之一，將會直接影響材料的使用性能，為了準確的評定金屬鍍層的厚度，就可以使用膜厚測試儀來進行檢測。它對樣品進行非接觸式、無損、高精度測量，可測量反射率、顏色、膜厚等參數。可應用于光伏、半導體材料、高分子材料等薄膜層的厚度測量，在半導體、太陽能、液晶面板和光學行業以及科研所和高校都得到廣泛的應用。隨著微型計算機多媒體技術的發展和普及，光學薄膜在液晶顯示屏，CRT顯示器等方面廣泛應用。為了提高光學薄膜的生產效率和改善產品質量有必要逐步導入人工智...

華中科技大學聯合武漢頤光科技科技有限公司開發的“高精度寬光譜穆勒矩陣橢偏測量關鍵技術與納米測量應用”項目榮獲湖北省技術發明一等獎。此獎項由省人民政府設立，經省科學技術獎勵評審委員會評審、省科學技術獎勵委員會審議，湖北省人民政府決定后終授予，旨在深入實施創新驅動發展戰略，建設創新強省，獎勵為省科技事業進步、經濟社會發展作出突出貢獻的科學技術人員和組織。穆勒矩陣橢偏儀廣泛應用于IC制造、平板顯示、光電子器件、光伏太陽能、柔性電子等國家新興戰略產業中的納米材料、納米結構與納米器件的...